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受賞報告
2010年11月7日(日)から10(水)まで、IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers, 米国電気電子学会)主催の 2010 International Symposium on Micro-Nano Mechatronics and Human Science (マイクロナノ・メカトロニクスとヒューマンサイエンスに関する国際会議)が、名古屋大学で開催されました．
この国際会議にて、機械工学専攻博士後期課程D3の崔題恩(CHOI JeEun)さんと武居昌宏教授の論文「Sub-Micro Particle Distribution of Measurement and Simulation in Cross-section of Microchannel by Process Computed Tomography」(プロセス・コンピューティッド・トモグラフィーによるマイクロ・チャンネル断面内のサブ・ミクロン粒子分布の計測とシミュレーション)
が、Best Paper Award (最優秀論文賞)を受賞しました．
表彰式は、11月10日(水)に名古屋大学にて行われました．
